美国Nanotrac Wave纳米粒度仪 高精度 悬浮物检测

仪器简介：
纳米粒度测量——Zui新动态光背散射技术
随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（pcs）变得更加不确定。40多年来，microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器 upa（ultrafine particle analyzer）研发成功，首次引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念，快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布。2001年，利用背散射（back-scattered）和异相多谱勒频移（heterodyne doppler frequency shifts）技术，结合动态光散射理论和先进的数学处理模型，将分析范围延伸至0.8nm-6.5μm,样品浓度更可高达百分之四十，基本实现样品的原位检测。异相多普勒频移技术采用可控参考稳定频率，直接比照因颗粒的布朗运动而产生的频率漂移，综合考虑被测体系的实时温度和粘度，较之于传统的自相关技术，信号强度高出几个数量级。另外，新型“y”型梯度光纤探针的使用，实现了对样品的直接测量，极大的减少了背景噪音，提高了仪器的分辨率。

主要技术特点：
采用Zui新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
专利的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
专利的可控参比方法（crm），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
专利的快速傅利叶变换算法（fft，fast fourier transform algorithm method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度

本产品的加工定制是否，品牌是Nanotrac，型号是Wave，类型是激光粒度仪，测量范围是0.8nm-6.5µm（um），测量准确度是≤1（%），测量重复性是0.1（%），测量时间是30-120秒（s）